北京北廣精儀儀器設(shè)備有限公司
詳細摘要： 損耗因子LCR阻抗分析儀確保介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測試儀在測試薄膜時數(shù)據(jù)的精準(zhǔn)度，是一個系統(tǒng)工程，涉及從樣品制備、夾具選擇、儀器校準(zhǔn)到測試環(huán)境控制的每一個環(huán)節(jié)。以下...
產(chǎn)品型號：GDAT-S所在地：北京市更新時間：2025-12-03 在線留言
詳細摘要： 低頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀本系列儀器基本精度為0.05%，測試頻率1MHz及10mHz的分辨率，4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面，操作方便簡潔。集成了變壓...
產(chǎn)品型號：GDAT-S所在地：北京市更新時間：2023-07-31 在線留言
詳細摘要： 電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀滿足標(biāo)準(zhǔn)：GBT 1409-2006測量電氣決緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法概述介質(zhì)損耗...
產(chǎn)品型號：GDAT-C所在地：北京市更新時間：2023-04-27 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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